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Year of publication

  • 1994 (1)

Document Type

  • Diploma Thesis (1)

Institute

  • Physikalische Technik, Informatik (1) (remove)

Language

  • German (1)

Author

  • Hollitschke, Lutz (1) (remove)

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Rastermikroskopische Untersuchung an SIC/TIC-Keramiken (1994)
Hollitschke, Lutz
In dieser Arbeit wurden aus SIC/TIC-Keramiken Verbunde untereinander und mit Stahl durch Aktivlöten hergestellt, für die REM/EDX-Analyse präpariert und untersucht. Es wurden Technologien gefunden, die den besonderen Anforderungen an die Präparation von unterschiedlich harten Phasen in einem Werkstoff und den speziellen Bedingungen bei der EDX-Analyse gerecht werden. Parallel wurden Tests zu mechanischen Eigenschaften der Keramik durchgeführt. <!-- #h:dissdiplKeramik.doc# -->
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