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    <title>https://libdoc.whz.de/opus4</title>
    <description>OPUS documents</description>
    <link>https://libdoc.whz.de/opus4/index/index/</link>
    <pubDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</pubDate>
    <lastBuildDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</lastBuildDate>
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      <title>Untersuchungen zur Abscheidung siliziumbasierter Schichtsysteme mittels Remote-Plasmaverfahren bei Athmosphärendruck</title>
      <link>https://libdoc.whz.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/43</link>
      <description>Um ein kostengünstiges und schnelles Verfahren zu Schichtab-scheidung realisieren zu können, ist es nötig, auf Vakuumtechnik zu verzichten. Aus diesem Grund ist die Beschichtung unter Atmo-sphärendruck in jüngster Zeit Thema zahlreicher Forschungen. Die dielektrisch behinderte Barrierenentladung stellt ein Verfahren zur Schichtherstellung mittels Plasmapolymerisation unter Hochdruck-bedingungen dar. Um eine von der Geometrie des zu beschichtenden Bauteils unabhängige Beschichtung zu realisieren, wurde der Versuch unternommen, siliziumbasierte Schichten außerhalb der Entladungs-zone auf dem Substrat aufwachsen zulassen. Dafür wurde neben der Barriereentladung eine gepulste Bogenentladung (PlasmaTreat® - Verfahren der Fa. AGRODYN) zur Aktivierung des Precursors verwendet. Darüber hinaus war die Möglichkeit der Precursorak-tivierung im Remoteplasma untersucht worden, um damit störende Beschichtung der Elektroden zu verhindern. Als Ausgangsmaterial für die Schichtbildung diente Hexamethyldisiloxan und Tetraethoxysilan. Die abgeschiedenen Schichten wurden mittels Infrarotspektroskopie, Elektronenstrahl-Mikroanalyse und Oberflächenenergiemessung cha-rakterisiert. &lt;!-- #h:dissdiplSiliziumbasierte Schichtsysteme.doc# --&gt;</description>
      <author>Daniela Rogler</author>
      <category>diplom</category>
      <guid>https://libdoc.whz.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/43</guid>
      <pubDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</pubDate>
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