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    <title>https://libdoc.whz.de/opus4</title>
    <description>OPUS documents</description>
    <link>https://libdoc.whz.de/opus4/index/index/</link>
    <pubDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</pubDate>
    <lastBuildDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</lastBuildDate>
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      <title>Rastermikroskopische Untersuchung an SIC/TIC-Keramiken</title>
      <link>https://libdoc.whz.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/612</link>
      <description>In dieser Arbeit wurden aus SIC/TIC-Keramiken Verbunde untereinander und mit Stahl durch Aktivlöten hergestellt, für die REM/EDX-Analyse präpariert und untersucht. Es wurden Technologien gefunden, die den besonderen Anforderungen an die Präparation von unterschiedlich harten Phasen in einem Werkstoff und den speziellen Bedingungen bei der EDX-Analyse gerecht werden. Parallel wurden Tests zu mechanischen Eigenschaften der Keramik durchgeführt. &lt;!-- #h:dissdiplKeramik.doc# --&gt;</description>
      <author>Lutz Hollitschke</author>
      <category>diplom</category>
      <guid>https://libdoc.whz.de/opus4/frontdoor/index/index/docId/612</guid>
      <pubDate>Mon, 11 Sep 2000 00:00:00 +0200</pubDate>
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